利用 NI 的多功能 I/O 來提升您的連線能力
DAQ 裝置採用多功能輸入/輸出 (簡稱 MIO),可將各種核心測量功能整合至單一裝置中
單一裝置,無限可能
利用 NI 的多功能 I/O 來提升您的連線能力
DAQ 裝置採用多功能輸入/輸出 (簡稱 MIO),可將各種核心測量功能整合至單一裝置中
單一裝置,無限可能

NI 擁有最佳軟體選項,可讓工程師組裝自動化測試與測量系統。相關軟體選項包括:
適用於 Python、C/C++、VB.NET 和 C# 的支援及範例程式碼
FlexLogger Lite,免費的記錄軟體
LabVIEW,適用於圖形編程的測試與測量產業標準
LabVIEW+ 套件是一套測試軟體套件,其中包含 LabVIEW plus 軟體,可用於進階分析、訊號處理和測試定序
NI 硬體以可靠性和測量品質聞名,讓工程師可確信其資料的準確度
透過使用 NI 的硬體目錄,工程師即可跟上日常工作的變化。不管是儀器、感應器測量,還是測試用軟體,NI 無所不包
測量 |
產生和控制 |
|---|---|
|
|
型號 |
USB-6001 |
USB-6003 |
USB-6421 |
USB-6423 |
USB-6451 |
USB-6453 |
| 零件編號 | ||||||
| 類比輸入通道 (單端/差動) | 8/4 | 8/4 | 16/8 | 32/16 | 16/8 | 32/16 |
| 最大取樣率* | 20 kS/s (1 通道) | 50 kS/s (1 通道) | 250 kS/s (1 通道) | 250 kS/s (1 通道) | 1 MS/s/ch (8 通道) | 1 MS/s/ch (16 通道) |
| ADC 數量 | 1 | 1 | 1 | 1 | 8 | 16 |
| 同時 | 否 | 否 | 否 | 否 | 是 | 是 |
| 解析度 | 14 位元 | 16 位元 | 16 位元 | 16 位元 | 20 位元 | 20 位元 |
| 類比輸出通道 | 2 | 2 | 2 | 4 | 2 | 4 |
| 數位 I/O 通道 | 13 (SW 已輪詢) | 13 (SW 已輪詢) | 16 | 16 | 16 | 16 |
| 計數器 | 1 | - | 4 | 4 | 4 | 4 |
型號 |
PCIe-6320 |
PCIe-6321 |
PCIe-6323 |
PCIe-6351 |
PCIe-6363 |
| 零件編號 | |||||
| 類比輸入通道 (單端/差動) | 16/8 | 16/8 | 32/16 | 16/8 | 32/16 |
| 最大取樣率* | 250 kS/s (1 通道) | 250 kS/s (1 通道) | 250 kS/s (1 通道) | 1.25 MS/c (1 通道) | 2 MS/s (1 通道) |
| ADC 數量 | 1 | 1 | 1 | 1 | 1 |
| 同時 | 否 | 否 | 否 | 否 | 否 |
| 解析度 | 16 位元 | 16 位元 | 16 位元 | 16 位元 | 16 位元 |
| 類比輸出通道 | 0 | 2 | 4 | 2 | 4 |
| 數位 I/O 通道 | 24 | 24 | 48 | 24 | 48 |
| 計數器 | 4 | 4 | 4 | 4 | 4 |
| 所需纜線和連接器插頭塊 | 每種各 1 個 | 每種各 1 個 | 每種各 2 個 | 每種各 1 個 | - |
型號 |
PXIe-6375 |
PXIe-6363 |
PXIe-6366 |
PXIe-6349 |
PXIe-6396 |
| 零件編號 | |||||
| 類比輸入通道 (單端/差動) | 208/104 | 32/16 | 8/0 | 32/0 | 8/0 |
| 最大取樣率* | 3.86 MS/s (1 通道) | 2 MS/s (1 通道) | 2 MS/s/ch | 500 kS/s/ch | 14 MS/s/ch |
| ADC 數量 | 1 | 1 | 8 | 32 | 8 |
| 同時 | 否 | 否 | 是 | 是 | 是 |
| 解析度 | 16 位元 | 16 位元 | 16 位元 | 16 位元 | 18 位元 |
| 類比輸出通道 | 2 | 4 | 2 | 2 | 2 |
| 數位 I/O 通道 | 24 | 48 | 24 | 24 | 24 |
| 計數器 | 4 | 4 | 4 | 4 | 4 |
| 所需纜線和連接器插頭塊 | 每種各 4 個 | 每種各 2 個 | 每種各 1 個 | 每種各 2 個 | 每種各 1 個 |
說明 |
長度 |
零件編號 |
| VHDCI 屏蔽式纜線 | 0.5m | |
| 1m | ||
| 2m | ||
| 5m |

適用於 (學術或商業) 研究的測量系統與測試平台
用於產品驗證的自動化測試系統
電子裝置和子系統的生產測試系統